半导体测试:从复杂性走向智能化的转型
随着芯片性能的持续提升,结构日益精密,应用场景不断扩展——从AI到自动驾驶,从高性能计算到工业控制——测试环节在整个生产链中的重要性也在不断上升。测试项增多、数据量激增、系统间协同难度上升,正在推动行业思考如何更高效地管理和利用测试数据。
据行业研究,现代半导体工厂每天可生成数TB级测试数据,涵盖测量值、设备状态、工艺参数等。这些数据不仅是生产记录,更是优化资源。客户在实际生产中也提出了更高的期望:
希望测试数据能在流程中实时参与决策;希望打通各阶段数据,实现闭环反馈;希望数据结构更灵活,适应快速变化的测试需求。
STDF(Standard Test Data Format)作为行业通用的测试数据格式,在数据统一与归档方面发挥了重要作用,但在实时性、资源消耗和扩展性方面仍存在局限。在追求“秒级响应”的生产环境中,客户对更高效、更灵活的数据处理方式提出了新的期待。
在晶圆测试、封装测试、老化测试、系统级测试等环节,数据系统往往彼此独立,接口不统一,跨阶段协同面临挑战。随着智能制造的发展,数据联动正成为行业关注重点,企业也在积极探索如何通过数据驱动的方式,提升测试流程的响应速度与智能化水平。
数据价值的释放,需要新的机制
我们认为,未来的测试系统不应只是“执行者”,而应具备“感知、反馈、优化”的能力。
实现这一转变的关键,是让数据在测试过程中真正“动”起来。
接下来,我们将介绍爱德万测试提出的数据前馈/反馈机制(Data Feedforward / Feedback,简称DFF),以及它如何通过ACS Nexus这一核心组件,在实际生产中实现数据驱动的智能测试。通过DFF,我们希望构建一个真正智能的测试系统——
它能实时感知、动态调整、持续优化,真正实现“数据驱动的半导体制造”。
什么是DFF?一句话解释:让测试流程具备“记忆”和“反应”能力
DFF是一种全新的测试数据流动方式,它打破了传统测试流程的线性结构,构建了一个“动态闭环”的数据生态。
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前馈(Feedforward)
将早期测试阶段(如晶圆测试)产生的数据,实时传递给后续阶段(如封装测试),用于:
优化测试内容;聚焦关键指标;提前识别潜在问题。
举个例子:
如果晶圆测试中某批芯片表现优异,系统可自动调整封装测试流程,跳过冗余项,节省时间与资源。
反馈(Feedback)
将后段测试或使用阶段发现的问题,及时回传至前段流程,用于:
修正测试策略;更新测试限值;提前排查缺陷;避免重复错误。
比如:
如果封装测试中发现某类异常,系统可自动调整晶圆测试策略,在下一批次中提前识别并处理。
DFF的目标:让测试流程“自我优化”
DFF不仅是数据流动,更是一种智能机制。它的核心目标有两个:
1.提升测试效率与内容质量
测试程序可根据实时数据动态调整;聚焦关键项,跳过冗余项;在有限时间内实现高效测试。
2.改善良率与成本控制
反馈机制帮助识别缺陷趋势;提前修正流程,减少后段损耗;提高一次通过率,降低返工成本。
这是一种从“静态测试”走向“动态测试”的转变。
实现DFF的底层平台:ACS RTDI系统
为了让DFF真正落地,我们打造了一个完整的实时数据基础设施——
ACS RTDI(Real-Time Data Infrastructure)。
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核心组件介绍:
ACS Nexus
部署于测试站,负责实时采集与处理数据。支持标准数据与用户自定义数据结构(Schema),具备高安全性与低延迟。
NexusTPI / OneAPI
连接测试程序与边缘应用,支持C++与Python接口,适配不同开发环境。支持点对点、发布订阅、异步通信等多种模式。
ACS Unified Server
作为数据中枢,协调各模块通信与数据流动,支持容器部署、数据回放、跨阶段数据查询。
ACS Edge Server:提供低延迟计算能力,支持AI/ML工作负载,保障反馈机制的实时性。
ACS Container Hub:用于管理AI/ML容器应用,支持多容器环境与动态证书管理。
而在这套架构中,ACS Nexus是连接测试现场与数据智能的关键枢纽。它不仅负责数据的实时采集与传输,更承担着测试流程的“感知、反馈、控制”职责,是整个DFF机制的核心驱动引擎。
它所提供的NexusTPI与OneAPI,进一步扩展了Nexus的能力,使其能够与客户算法、边缘应用无缝协同。ACS Unified Server与ACS Edge Server则为Nexus提供了稳定的后台支撑,确保数据流动的安全与高效。
数据的价值,不止于“记录”,更在于“行动”
在下一篇中,我们将进一步揭示DFF机制在实际生产中的落地方式,并重点介绍其核心驱动引擎——ACS Nexus。正是它,让数据在测试流程中真正“动”起来,推动测试从静态执行走向智能反馈。





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